如何从晶闸管外观以及芯片上判断是什么原因损坏的？

当可控硅损坏后需要检查分析其原因时，可把管芯从冷却套中取出，打开芯盒再取出芯片，观察其损坏后的痕迹，以判断是何原因。按下面介绍几种常见现象分析：　　（1).电压击穿。可控硅因不能承受电压而损坏，其芯

2018-11-20

电力半导体模块现如今发展趋势如何？

可控硅晶闸管一种新型器件的诞生往往使整个装置系统面貌发生巨大改观，促进电力电子技术向前发展。自1957年第一个晶闸管问世以来，经过40多年的开发和研究，已推出可关断晶闸管（GTO），绝缘栅双极晶体管（IGBT）等40多种电力半导体器件，目

2018-11-20